Testing Complex and Embedded Systems / Nejlevnější knihy
Testing Complex and Embedded Systems

Kód: 06726971

Testing Complex and Embedded Systems

Autor Jon M. Quigley

Many enterprises regard system-level testing as the final piece of the development effort, rather than as a tool that should be integrated throughout the development process. As a consequence, test teams often execute critical tes ... celý popis

3875 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-21 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Testing Complex and Embedded Systems

Nákupem získáte 388 bodů

Anotace knihy

Many enterprises regard system-level testing as the final piece of the development effort, rather than as a tool that should be integrated throughout the development process. As a consequence, test teams often execute critical test plans just before pro

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Computing & information technology Computer programming / software development Software Engineering

3875 Kč

Oblíbené z jiného soudku

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 46922 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: