Trace, Log, Text, Narrative, Data / Nejlevnější knihy
Trace, Log, Text, Narrative, Data

Kód: 44556075

Trace, Log, Text, Narrative, Data

Autor Software Diagnostics Institute

General trace and log analysis patterns allow the application of uniform diagnostics and anomaly detection across diverse software environments. This pattern language covers any execution artifact from a small debugging trace to a ... celý popis

1775


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-21 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Trace, Log, Text, Narrative, Data

Nákupem získáte 178 bodů

Anotace knihy

General trace and log analysis patterns allow the application of uniform diagnostics and anomaly detection across diverse software environments. This pattern language covers any execution artifact from a small debugging trace to a distributed log with billions of messages from hundreds of computers, thousands of software components, threads, and processes. Pattern-oriented trace and log analysis is applicable to troubleshooting and debugging Windows, macOS, Linux, FreeBSD, Android, iOS, z/OS, and any other possible computer platform, including networking and IoT. Its pattern catalog is a part of pattern-oriented software data analysis, diagnostics, anomaly detection, forensics, prognostics, root cause analysis, and debugging developed by Software Diagnostics Institute. Also, the scope of applicability of such analysis patterns is much wider than just software execution artifacts or temporal data and now includes general data, narratives, text, and image analysis (space-like narratology). This reference reprints with corrections almost 230 patterns originally published in Memory Dump Analysis Anthology volumes 3 - 14 and Software Diagnostics Library. It also includes additional 19 analysis patterns from the forthcoming volume 15, bringing the total analysis pattern count to 229. Full-color diagrams accompany almost all pattern descriptions. The fifth edition includes 28 more patterns, updated diagram pictures, classification, and the list of narratological and mathematical influences, and now includes the long-awaited introduction and two new appendixes.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v němčině Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik Informatik, EDV Informatik, EDV - Allgemeines

1775

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 46010 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: