Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems / Nejlevnější knihy
Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Kód: 18912854

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Autor Chattopadhyay, Santanu (Department of Electronics and Electrical Communication EngineeringIndian Institute of Technology Kharagpur, West Bengal, India

The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. The book will be suitable for the researchers working on p ... celý popis

2119 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 15-20 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Nákupem získáte 212 bodů

Anotace knihy

The book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. The book will be suitable for the researchers working on power- and thermal-aware design and test of digital VLSI chips--

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

2119 Kč

Oblíbené z jiného soudku

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: