Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 525 bodů

Anotace knihy

Fault detection has become increasingly difficult as integrated circuits become more and more complex. Photon Emission Microscopy (PEM) is a physical failure analysis technique which locates and identifies faults in integrated circuits.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Semiconductor Device & Failure Analysis - Using Photon Emmission Microscopy
• Autor: Wai-Kin Chim
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 288
• EAN: 9780471492405
• ISBN: 047149240X
• ID: 04891639
• Nakladatelství: John Wiley & Sons Inc
• Hmotnost: 716 g
• Rozměry: 262 × 176 × 21 mm
• Datum vydání: 10. November 2000

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---