Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices / Nejlevnější knihy
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Kód: 01420514

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Autor Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low-Power Devices §Edited by: §Patrick Girard, Research Director, CNRS / LIRMM, France §Nicola Nicolici, Associate Professor, McMaster University, Canada §Xiaoqing Wen, Professor, Kyushu ... celý popis

5094


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 12-15 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Nákupem získáte 509 bodů

Anotace knihy

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low-Power Devices §Edited by: §Patrick Girard, Research Director, CNRS / LIRMM, France §Nicola Nicolici, Associate Professor, McMaster University, Canada §Xiaoqing Wen, Professor, Kyushu Institute of Technology, Japan §Managing the power consumption of circuits and systems is now considered as one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low-power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and Electronic Design Automation (EDA) solutions for testing low-power devices. §The first comprehensive book on power-aware test for (low-power) circuits and systems §Shows readers how low-power devices can be tested safely without affecting yield and reliability §Includes necessary background information on design-for-test and low-power design §Covers in detail power-constrained test techniques, including power-aware automatic test pattern generation, design-for-test, built-in self-test and test compression §Presents state-of-the-art industrial practices and EDA solutions

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

5094

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: