Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 304 bodů

Anotace knihy

This book lays the groundwork for further use of Electron Spin Echo Envelop Modulation (ESEEM) and opens the possibility of highly precise chemical fingerprinting. It reveals an astonishingly long memory of spin coherence in semiconductor particles.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance
• Autor: Kipp van Schooten
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 90
• EAN: 9783319033280
• ISBN: 331903328X
• ID: 02823763
• Nakladatelství: Springer International Publishing AG
• Hmotnost: 1708 g
• Rozměry: 6 × 155 × 7 mm
• Datum vydání: 14. April 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---