Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Nanometer Variation-Tolerant SRAM

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 236 bodů

Anotace knihy

This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Nanometer Variation-Tolerant SRAM
• Podnázev: Circuits and Statistical Design for Yield
• Autor: Mohamed Abu-Rahma, Mohab Anis
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 172
• EAN: 9781493902200
• ISBN: 1493902202
• ID: 09038126
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 2934 g
• Rozměry: 235 × 155 × 10 mm
• Datum vydání: 15. October 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---