Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize MORDA in the Semiconductor Industry

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 151 bodů

Anotace knihy

In the course of a feasibility study at the FEOL of §the 300 mm semiconductor Fab of Qimonda Dresden, a §system for multivariate analysis of time-resolved §raw data originating from wafer processing tools was §instituted. This system called MORDA (Multivariate §Offline Raw Data Analysis) closed the gap §between online Fault Detection and Classification §basing on statistical key numbers, and offline §PCA, PLS and Batch Modelling to diagnose and §classify the root causes of Low Yielding Wafers that §could not be explained by classical FDC.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Computing & information technology Information technology: general issues

• Plný název: MORDA in the Semiconductor Industry
• Autor: Uwe Büttner
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 96
• EAN: 9783639059380
• ISBN: 3639059387
• ID: 06815344
• Nakladatelství: VDM Verlag Dr. Mueller E.K.
• Hmotnost: 141 g
• Rozměry: 229 × 152 × 5 mm
• Datum vydání: 04. August 2008

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---