Microelectronic Test Structures for CMOS Technology / Nejlevnější knihy
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Kód: 01424507

Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Autor Manjul Bhushan, Mark B. Ketchen

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques f ... celý popis

4140 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 10-13 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Microelectronic Test Structures for CMOS Technology

Nákupem získáte 414 bodů

Anotace knihy

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

4140 Kč

Oblíbené z jiného soudku

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 47405 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: