Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Microelectronic Reliability

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 377 bodů

Anotace knihy

A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering

• Plný název: Microelectronic Reliability
• Autor: Emiliano Pollino
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 556
• EAN: 9780890063507
• ISBN: 9780890063507
• ID: 05357937
• Nakladatelství: Artech House Publishers
• Hmotnost: 982 g
• Rozměry: 229 × 152 × 34 mm
• Datum vydání: 01. April 1989

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---