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El método OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologías existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificación de un marco multinivel de 160 características que deben ser consideradas para evaluar ontologías. Se proporciona el modelo conceptual de una ontología en el dominio de las ontologías, Reference Ontology, que está basada en el marco multinivel de características. Se ha elaborado un método basado en el método de jerarquías analíticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologías candidatas que pueden ser incorporadas en un nuevo sistema. El método ofrece una medida cuantitativa de su idoneidad y sirve para decidir, de forma justificada, qué ontologías son las más adecuadas para el sistema que el usuario va a desarrollar. Se describe también el soporte tecnológico que asiste al método.

Parametry knihy

• Plný název: Metrica de idoneidad de ontologias
• Autor: Lozano-Tello Adolfo
• Jazyk: Španělština
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 244
• EAN: 9783639646177
• ISBN: 3639646177
• ID: 09213805
• Nakladatelství: Publicia
• Hmotnost: 363 g
• Rozměry: 229 × 152 × 14 mm
• Datum vydání: 26. January 2015

Oblíbené z jiného soudku

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