Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 / Nejlevnější knihy
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Kód: 02439136

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Autor Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

881


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-21 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309

Nákupem získáte 88 bodů

Anotace knihy

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

881

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 46053 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: