Logic Testing and Design for Testability / Nejlevnější knihy
Logic Testing and Design for Testability

Kód: 06516221

Logic Testing and Design for Testability

Autor Hideo Fujiwara

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

869 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 8-11 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Logic Testing and Design for Testability

Nákupem získáte 87 bodů

Anotace knihy

Design for testability techniques offer one approach toward alleviating this situation by adding enough extra circuitry to a circuit or chip to reduce the complexity of testing.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Computing & information technology Computer science

869 Kč

Oblíbené z jiného soudku

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 47805 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: