Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Interfacial Compatibility in Microelectronics

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 353 bodů

Anotace knihy

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Industrial chemistry & manufacturing technologies Other manufacturing technologies

• Plný název: Interfacial Compatibility in Microelectronics
• Podnázev: Moving Away from the Trial and Error Approach
• Autor: Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 218
• EAN: 9781447160687
• ISBN: 1447160681
• ID: 02481545
• Nakladatelství: Springer London Ltd
• Hmotnost: 355 g
• Rozměry: 235 × 155 × 13 mm
• Datum vydání: 22. February 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---