Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Fotometriya i metrika displeev

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 180 bodů

Anotace knihy

Kniga rassmatrivaet obshchie svoystva izlucheniy i ikh preobrazovanie, fotometricheskie kharakteristiki sredy i tel, fotokhimicheskie i fotograficheskie svoystva izlucheniy, elementy ucheniya o tsvete i svoystva sredstv otobrazheniya informatsii. Perechislyayutsya glavneyshie velichiny fotometrii i pokazany osnovnye sootnosheniya mezhdu nimi. V odnom iz razdelov govoritsya o fotometricheskikh svoystvakh tel i sred. Dovol'no podrobno rassmatrivaetsya teoriya tsveta. Dan primer rascheta tsveta svecheniya smesi lyuminoforov. Opisyvayutsya tipy sredstv otobrazheniya informatsii, ikh optiko-fizicheskie kharakteristiki i metody izmereniya. Kniga mozhet predstavlyat' interes spetsialistam v oblasti kino i televideniya, materialov svetotekhniki, sredstv otobrazheniya informatsii, kolorimetrii i fotometrii.

Parametry knihy

• Plný název: Fotometriya i metrika displeev
• Autor: Mikhaylov Oleg, Sychev Maksim, Ogurtsov Konstantin
• Jazyk: Ruština
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 220
• EAN: 9783639745320
• ISBN: 3639745329
• ID: 09072563
• Nakladatelství: Palmarium Academic Publishing
• Hmotnost: 327 g
• Rozměry: 229 × 152 × 13 mm
• Datum vydání: 22. October 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---