Designer's Guide to Testable Asic Devices / Nejlevnější knihy
Designer's Guide to Testable Asic Devices

Kód: 05248667

Designer's Guide to Testable Asic Devices

Autor Wayne M. Needham

While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers h ... celý popis

4059 Kč


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 13-18 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Designer's Guide to Testable Asic Devices

Nákupem získáte 406 bodů

Anotace knihy

While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

4059 Kč

Oblíbené z jiného soudku

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 46994 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: