Kód: 06681094
Presents a survey of defects that occur in silicon-based metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) technologies. This book discusses flaws in linear bipolar technologies, silicon carbide-based devices, and gallium ... celý popis
Angličtina
6406 Kč
Dostupnost:
50 % šance
Máme informaci, že by titul mohl být dostupný. Na základě vaší objednávky se ho pokusíme do 6 týdnů zajistit.
Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.
Nákupem získáte 641 bodů
Anotace knihy
Presents a survey of defects that occur in silicon-based metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) technologies. This book discusses flaws in linear bipolar technologies, silicon carbide-based devices, and gallium arsenide materials and devices.
Parametry knihy
Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering
6406 Kč
Angličtina
Osobní odběr Praha, Brno a 46611 dalších
Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Vrácení do měsíce
571 999 099 (8-15.30h)Nákupní košík ( prázdný )