Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Data Mining and Diagnosing IC Fails

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 236 bodů

Anotace knihy

There are many techniques for analyzing IC fails. This book addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Data Mining and Diagnosing IC Fails
• Autor: Leendert M. Huisman
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 250
• EAN: 9780387249933
• ISBN: 9780387249933
• ID: 07184089
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 576 g
• Rozměry: 235 × 155 × 19 mm
• Datum vydání: 21. June 2005

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---