Mohlo by se vám také líbit

Informovat o naskladnění knihy

Více informací o knize Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces: Volume 466

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 69 bodů

Anotace knihy

There has been a considerable expansion in the breadth and depth of studies involving scanning tunneling microscopy and high-resolution electron microscopy. The purpose of this book is to highlight recent developments and applications of atomic-resolution imaging methods to surfaces and bulk defects. Papers from a range of scientific and engineering disciplines are presented. Recent advances in imaging techniques, including quantitative image matching, are emphasized. Applications to ceramics, intermetallics and semiconductor surface reconstructions are also featured.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Plný název: Atomic Resolution Microscopy of Surfaces and Interfaces: Volume 466
• Autor: R. J. HamersD. J. Smith
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 282
• EAN: 9781558993709
• ISBN: 1558993703
• ID: 02060121
• Nakladatelství: Materials Research Society
• Hmotnost: 568 g
• Rozměry: 234 × 155 × 20 mm
• Datum vydání: 05. September 1997

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---