Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 / Nejlevnější knihy
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Kód: 02254276

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Autor Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

3530 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 5-8 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Nákupem získáte 353 bodů

Anotace knihy

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

3530 Kč

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 48503 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: