Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Advanced VLSI Design and Testability Issues

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 152 bodů

Anotace knihy

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

Parametry knihy

• Plný název: Advanced VLSI Design and Testability Issues
• Autor: Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 360
• EAN: 9780367538361
• ISBN: 0367538369
• ID: 37332130
• Nakladatelství: Taylor & Francis Ltd
• Hmotnost: 570 g
• Rozměry: 234 × 154 × 35 mm
• Datum vydání: 15. April 2022

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---