Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Advanced Test Methods for SRAMs

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 235 bodů

Anotace knihy

Valuable testing and diagnostic methods for the latest generation of static random access memory (SRAM), are presented in this comprehensive guide. New fault models are required for the latest very deep sub-micron (VDSM) technologies, and are outlined here.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Advanced Test Methods for SRAMs
• Podnázev: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
• Autor: Girard, Patrick, PH.
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 171
• EAN: 9781489983145
• ISBN: 9781489983145
• ID: 09062252
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 297 g
• Rozměry: 235 × 155 × 235 mm
• Datum vydání: 03. September 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---