Advanced Materials Characterization / Nejlevnější knihy
Advanced Materials Characterization

Kód: 42862496

Advanced Materials Characterization

Autor Kumar, Ch Sateesh (University of Johannesburg, South Africa), Singh, M. Muralidhar (Madanapalle Institute of Technology & Science, India), Krishna, Ram (MADANAPALLE INSTITUTE OF TECHNOLOGY AND SCIENCE

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffract ... celý popis

3995


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 9-15 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Darujte tuto knihu ještě dnes
  1. Objednejte knihu a zvolte Zaslat jako dárek.
  2. Obratem obdržíte darovací poukaz na knihu, který můžete ihned předat obdarovanému.
  3. Knihu zašleme na adresu obdarovaného, o nic se nestaráte.

Více informací

Více informací o knize Advanced Materials Characterization

Nákupem získáte 400 bodů

Anotace knihy

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Parametry knihy

3995



Osobní odběr Praha, Brno a 47529 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: