Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize VLSI Design and Test

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 154 bodů

Anotace knihy

This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Computing & information technology Computer hardware Network hardware

• Plný název: VLSI Design and Test
• Podnázev: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
• Autor: Singh Manoj Gaur, Mark Zwolinski, Vijay Laxmi, D. Boolchandani
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 388
• EAN: 9783642420238
• ISBN: 3642420230
• ID: 02198670
• Nakladatelství: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Hmotnost: 6088 g
• Rozměry: 235 × 155 × 22 mm
• Datum vydání: 16. November 2013

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---