Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 429 bodů

Anotace knihy

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. 

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Energy technology & engineering Electrical engineering

• Plný název: Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
• Autor: Xiong Du, Jun Zhang, Gaoxian Li, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Rui Du
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 172
• EAN: 9789811931345
• ID: 43659892
• Nakladatelství: Springer, Berlin
• Rozměry: 235 × 155 mm
• Rok vydání: 2023

---

---

---