The Second Static Analysis Took Exposition 2009 / Nejlevnější knihy
The Second Static Analysis Took Exposition 2009

Kód: 17236806

The Second Static Analysis Took Exposition 2009

Autor U S Department of Commerce

The NIST Software Assurance Metrics And Tool Evaluation (SAMATE) project conducted the second Static Analysis Tool Exposition (SATE) in 2009 to advance research in static analysis tools that find security defects in source code. T ... celý popis

382 Kč


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 9-15 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize The Second Static Analysis Took Exposition 2009

Nákupem získáte 38 bodů

Anotace knihy

The NIST Software Assurance Metrics And Tool Evaluation (SAMATE) project conducted the second Static Analysis Tool Exposition (SATE) in 2009 to advance research in static analysis tools that find security defects in source code. The main goals of SATE were

Parametry knihy

382 Kč

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 46835 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: