Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects, including important parameters such as process variations, crosstalk, and power supply noise.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
• Autor: Mohammad Tehranipoor, Ke Peng, Krishnendu Chakrabarty
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 212
• EAN: 9781441982964
• ISBN: 1441982965
• ID: 01424413
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 518 g
• Rozměry: 235 × 155 × 17 mm
• Datum vydání: 10. September 2011

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---