Test and Diagnosis for Small-Delay Defects / Nejlevnější knihy
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Kód: 09161362

Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Autor Mohammad Tehranipoor, Kemao Peng, Krishnendu Chakrabarty

This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

3907 Kč


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 12-17 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Test and Diagnosis for Small-Delay Defects

Nákupem získáte 391 bodů

Anotace knihy

This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits. It details effective and scalable methodologies for screening and diagnosing small-delay defects.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

3907 Kč

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: