Technical Foundations for Measuring Ego Development / Nejlevnější knihy
Technical Foundations for Measuring Ego Development

Kód: 03026751

Technical Foundations for Measuring Ego Development

Autor Le-Xuan Hy

This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a major measure of ego development, from an intuitive rating scale to an empirically derived reliable and valid personality test. The a ... celý popis

2155


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 14-18 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Technical Foundations for Measuring Ego Development

Nákupem získáte 216 bodů

Anotace knihy

This book describes the evolution of the Washington University Sentence Completion Test (SCT), a major measure of ego development, from an intuitive rating scale to an empirically derived reliable and valid personality test. The authors recount the complet

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Society & social sciences Psychology The self, ego, identity, personality

2155

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: