Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs / Nejlevnější knihy
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Kód: 02597387

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Autor Ruijing Shen, Sheldon X.-D. Tan, Hao Yu

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications i ... celý popis

3106 Kč


U nakladatele na objednávku
Odesíláme za 17-27 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Nákupem získáte 311 bodů

Anotace knihy

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

3106 Kč

Oblíbené z jiného soudku

O tomto obchodě



Nákupní rádce
Přehledy
Knihy podle jazyka
Platba
Doručení 54 Kč

Osobní odběr Praha, Brno a 46566 dalších

Česko
България Hrvatska România Magyarország Polska Slovensko

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies

Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: