Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 182 bodů

Anotace knihy

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from sub-nanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the ca

Parametry knihy

• Plný název: Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
• Autor: Harland G. Tompkins, James N. Hilfiker
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 194
• EAN: 9781606507278
• ISBN: 1606507273
• ID: 12371619
• Nakladatelství: CAB INTL
• Hmotnost: 268 g
• Rozměry: 229 × 152 × 10 mm
• Datum vydání: 16. December 2015

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---