Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 552 bodů

Anotace knihy

While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Optical physics

• Plný název: Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry - A User's Guide
• Autor: Harland G. Tompkins, William A. McGahan
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 248
• EAN: 9780471181729
• ISBN: 0471181722
• ID: 04888238
• Nakladatelství: John Wiley & Sons Inc
• Hmotnost: 516 g
• Rozměry: 163 × 237 × 19 mm
• Datum vydání: 06. April 1999

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---