Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Secondary Ion Mass Spectrometry

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 182 bodů

Anotace knihy

This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figure

Parametry knihy

• Plný název: Secondary Ion Mass Spectrometry
• Podnázev: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization
• Autor: Fred A. Stevie
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 262
• EAN: 9781606505885
• ISBN: 1606505882
• ID: 11124398
• Nakladatelství: MOMENTUM PR
• Hmotnost: 412 g
• Rozměry: 235 × 152 × 19 mm
• Datum vydání: 01. September 2015

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---