Scanning Electron Microscopy / Nejlevnější knihy
Scanning Electron Microscopy

Kód: 01653385

Scanning Electron Microscopy

Autor Ludwig Reimer, P.W. Hawkes

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron ... celý popis

7519


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 10-18 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Scanning Electron Microscopy

Nákupem získáte 752 bodů

Anotace knihy

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Materials / States of matter

7519

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 46896 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: