Kód: 04343535
This book contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is more compatible with other charged particle beam instrumentation.
Angličtina
Nákupem získáte 364 bodů
Anotace knihy
This book contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is more compatible with other charged particle beam instrumentation.
Parametry knihy
Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Other technologies & applied sciences Applied optics
3635 Kč
Angličtina
Osobní odběr Praha, Brno a 48177 dalších
Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies
Vrácení do měsíce
571 999 099 (8-15.30h)Nákupní košík ( prázdný )