Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 183 bodů

Anotace knihy

Dissertation Discovery Company and University of Florida are dedicated to making scholarly works more discoverable and accessible throughout the world. This dissertation, "Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics" by Steven V. Wa

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Energy technology & engineering Electrical engineering

• Plný název: Scaling Effects on Metal-oxide-semiconductor Device Characteristics
• Autor: STEVEN WALSTRA
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 152
• EAN: 9780530002323
• ISBN: 0530002329
• ID: 22568505
• Nakladatelství: Dissertation Discovery Company
• Hmotnost: 367 g
• Rozměry: 279 × 216 × 8 mm
• Datum vydání: 31. May 2019

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---