Rapid Reliability Assessment of VLSICs / Nejlevnější knihy
Rapid Reliability Assessment of VLSICs

Kód: 01377456

Rapid Reliability Assessment of VLSICs

Autor A.P. Dorey, B.K. Jones, A. M. D. Richardson, Y.Z. Xu

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service. One possible approa ... celý popis

2259

Dostupnost:

50 % šanceMáme informaci, že by titul mohl být dostupný. Na základě vaší objednávky se ho pokusíme do 6 týdnů zajistit.
Prohledáme celý svět

Informovat o naskladnění

Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Informovat o naskladnění knihy

Informovat o naskladnění knihy


Souhlas - Souhlasím se zasíláním obchodních sdělení a zpracováním osobních údajů k obchodním sdělením.

Zašleme vám zprávu jakmile knihu naskladníme

Zadejte do formuláře e-mailovou adresu a jakmile knihu naskladníme, zašleme vám o tom zprávu. Pohlídáme vše za vás.

Více informací o knize Rapid Reliability Assessment of VLSICs

Nákupem získáte 226 bodů

Anotace knihy

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service. One possible approach that is described in this book is to make precise electrical measurements that may reveal those devices more likely to fail. The measurements assessed are of analog circuit parameters which, based on a knowledge of failure mechanisms, may indicate a future failure. . To incorporate these tests into the functional listing of very large scale integrated circuits consideration has to be given to the sensitivity of the tests where small numbers of devices may be defective in a complex circuit. In addition the tests ideally should require minimal extra test time. A range of tests has been evaluated and compared with simulation used to assess the sensitivity of the measurements. Other work in the field is fully referenced at the end of each chapter. The team at Lancaster responsible for this book wish to thank the Alvey directorate and SERe for the necessary support and encouragement to publish our results. We would also like to thank John Henderson, recently retired from the British Telecom Research Laboratories, for his cheerful and enthusiastic encouragement. Trevor Ingham, now in New Zealand, is thanked for his early work on the project.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

2259

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: