Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Photomodulated Optical Reflectance

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

This singular non-invasive technique for in-line metrology is an outstanding contribution to the field, reporting significant advances in testing the properties of semiconductors, such as the characteristics of ultra-shallow junctions, without destroying them.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Photomodulated Optical Reflectance
• Podnázev: A Fundamental Study Aimed at Non-Destructive Carrier Profiling in Silicon
• Autor: Janusz Bogdanowicz
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 204
• EAN: 9783642426865
• ISBN: 3642426867
• ID: 05147965
• Nakladatelství: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Hmotnost: 355 g
• Rozměry: 12 × 155 × 13 mm
• Datum vydání: 17. July 2014

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---