Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Nanometer Technology Designs

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 265 bodů

Anotace knihy

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

• Plný název: Nanometer Technology Designs
• Podnázev: High-Quality Delay Tests
• Autor: Nisar Ahmed
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 281
• EAN: 9781441945594
• ISBN: 1441945598
• ID: 01423022
• Nakladatelství: Springer-Verlag New York Inc.
• Hmotnost: 462 g
• Rozměry: 235 × 155 × 15 mm
• Datum vydání: 14. December 2011

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---