Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 384 bodů

Anotace knihy

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Plný název: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
• Autor: Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 316
• EAN: 9781848219366
• ISBN: 1848219369
• ID: 13595194
• Nakladatelství: ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
• Hmotnost: 618 g
• Rozměry: 241 × 167 × 24 mm
• Datum vydání: 12. August 2016

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---