Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize MOS Interface Physics, Process and Characterization

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 167 bodů

Anotace knihy

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.

Parametry knihy

• Plný název: MOS Interface Physics, Process and Characterization
• Autor: Shengkai Wang, Xiaolei Wang
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 162
• EAN: 9781032106281
• ID: 44702474
• Nakladatelství: Taylor & Francis Ltd
• Hmotnost: 453 g
• Rozměry: 229 × 152 mm
• Datum vydání: 29. January 2024

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---