Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy / Nejlevnější knihy
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Kód: 01427170

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Autor Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter G. Binev

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly ... celý popis

3249


Skladem u dodavatele v malém množství
Odesíláme za 10-14 dnů

Potřebujete více kusů?Máte-li zájem o více kusů, prověřte, prosím, nejprve dostupnost titulu na naši zákaznické podpoře.


Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

Nákupem získáte 325 bodů

Anotace knihy

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Science: general issues Scientific equipment, experiments & techniques

3249

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 12903 dalších

Copyright ©2008-24 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Zásilkovně
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: