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Ce travail porte sur l'étude des mécanismes de luminescence de nanocristaux de silicium (nc-Si) de taille contrôlée. Les matériaux étudiés sont des couches minces de SiO2 contenant des nc-Si confinés. La structure des films est caractérisée par spectroscopie d'absorption infrarouge, diffraction de rayons X et microscopie électronique ŕ transmission. La distribution en taille des nc-Si est mesurée, montrant que la taille est contrôlée avec une faible dispersion. Les mécanismes de luminescence sont étudiés par spectroscopie de photoluminescence continue et résolue en temps de 4 K ŕ 300 K. Corrélés ŕ l'étude de structure, les résultats de photoluminescence montrent que la qualité de la matrice et la taille des nc-Si contrôlent les propriétés de luminescence des nc-Si. Les mécanismes de recombinaison des porteurs sont étudiés. Enfin, le transport électrique dans les couches est caractérisé. L'électroluminescence est observée et montre le rôle joué par les nc-Si sur la luminescence.

Parametry knihy

• Plný název: Luminescence de nanocristaux de silicium
• Autor: Jambois Olivier
• Jazyk: Francouzština
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 296
• EAN: 9783841632241
• ISBN: 3841632246
• ID: 09523016
• Nakladatelství: Presses Académiques Francophones
• Hmotnost: 435 g
• Rozměry: 229 × 152 × 17 mm
• Datum vydání: 23. July 2015

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