Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Kelvin Probe Force Microscopy

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 331 bodů

Anotace knihy

This volume presents a concise introduction to Kelvin probe force microscopy. The text discusses potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Mechanical engineering & materials Materials science

• Plný název: Kelvin Probe Force Microscopy
• Podnázev: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
• Autor: Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 334
• EAN: 9783642271137
• ISBN: 3642271138
• ID: 02255881
• Nakladatelství: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
• Hmotnost: 554 g
• Rozměry: 236 × 156 × 23 mm
• Datum vydání: 29. November 2013

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---