Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials - Instrumentation, Data Analysis and Applications

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 389 bodů

Anotace knihy

This book serves as an updated summary on the use of Spectrometric Ellipsometry with its practical usage in probing interfacial properties, electronic structures and quasiparticle properties of different classes of thin-film materials.

Parametry knihy

• Plný název: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials - Instrumentation, Data Analysis and Applications
• Autor: Andrew Thye Shen Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 208
• EAN: 9783527349517
• ISBN: 3527349510
• ID: 33503881
• Nakladatelství: Wiley-VCH Verlag GmbH
• Hmotnost: 408 g
• Rozměry: 249 × 169 × 12 mm
• Datum vydání: 13. April 2022

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---