Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 984 bodů

Anotace knihy

This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon. Besides compiling the structures, energetic properties, identified electrical levels and spectroscopic signatures, and the diffusion behaviour from investigations, it gives a comprehensive introduction into the relevant fundamental concepts.§

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Chemistry Analytical chemistry

• Plný název: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
• Autor: Peter Pichler
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 554
• EAN: 9783709172049
• ISBN: 3709172047
• ID: 02647210
• Nakladatelství: Springer Verlag GmbH
• Hmotnost: 1104 g
• Rozměry: 254 × 178 × 32 mm
• Datum vydání: 01. November 2012

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---