Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 232 bodů

Anotace knihy

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern tec

Parametry knihy

• Plný název: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
• Autor: D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Brožovaná
• Počet stran: 264
• EAN: 9780367400637
• ISBN: 0367400634
• ID: 24622344
• Nakladatelství: Taylor & Francis Ltd
• Hmotnost: 490 g
• Rozměry: 246 × 174 mm
• Datum vydání: 10. October 2019

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---