Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 640 bodů

Anotace knihy

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Mathematics & science Physics Optical physics

• Plný název: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
• Autor: B. K. Tanner
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 264
• EAN: 9780850667585
• ISBN: 9780850667585
• ID: 06695007
• Nakladatelství: Taylor & Francis Ltd
• Hmotnost: 656 g
• Rozměry: 263 × 178 × 20 mm
• Datum vydání: 05. February 1998

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---