High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability / Nejlevnější knihy
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Kód: 01424651

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Autor Stephan Eggersglüß, Rolf Drechsler

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-base ... celý popis

2303


Skladem u dodavatele
Odesíláme za 10-13 dnů
Přidat mezi přání

Mohlo by se vám také líbit

Dárkový poukaz: Radost zaručena

Objednat dárkový poukazVíce informací

Více informací o knize High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Nákupem získáte 230 bodů

Anotace knihy

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Electronics & communications engineering Electronics engineering

2303

Oblíbené z jiného soudku



Osobní odběr Praha, Brno a 48164 dalších

Copyright ©2008-26 nejlevnejsi-knihy.cz Všechna práva vyhrazenaSoukromíCookies


Můj účet: Přihlásit se
Všechny knihy světa na jednom místě. Navíc za skvělé ceny.

Nákupní košík ( prázdný )

Vyzvednutí v Balikovně a PPL
boxech
zdarma nad 1 499 Kč.

Nacházíte se: