Mohlo by se vám také líbit

Více informací o knize Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

• Parametry knihy
• Anotace
• Oblíbené z jiného soudku

Nákupem získáte 351 bodů

Anotace knihy

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of s

Parametry knihy

Zařazení knihy Knihy v angličtině Technology, engineering, agriculture Technology: general issues Nanotechnology

• Plný název: Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
• Autor: Ronald G. Reifenberger
• Jazyk: Angličtina
• Vazba: Pevná
• Počet stran: 340
• EAN: 9789814630344
• ISBN: 9789814630344
• ID: 03611606
• Nakladatelství: World Scientific Publishing
• Hmotnost: 614 g
• Rozměry: 238 × 158 × 23 mm
• Datum vydání: 12. November 2015

Oblíbené z jiného soudku

---

---

---